Адрес
Большой Строченовский пер., 25А
Назад

ФГУП «ВНИИФТРИ» презентовало монографию Василия Севастьянова

Ведущим национальным метрологическим институтом страны была выпущена монография Василия Севастьянова «Моделирующие опорные поля нейтронов для метрологического обеспечения нейтронных измерений на ядерно-физических установках РФ», редактором которой выступил доктор технических наук, профессор Сергей Донченко.


В новой книге представлены результаты исследований действия системы моделирующих опорных полей нейтронов (МОП) на ядерно-физических установках (ЯФУ) предприятий различных российских ведомств. Система моделирующих полей сегодня успешно используется в градуировке штатной аппаратуры защитных систем и управления ядерными реакторами.

Она помогает в оценке радиационного воздействия нейтронов на биообъекты, устройства и аппаратуру, а также применяется в проведении различных нейтронных исследований. В издании особое внимание уделено методам моделирования и восстановления спектров нейтронов ЯФУ. В нем можно ознакомиться с подробным анализом апробированного в работе метода восстановления, представленного в виде суперпозиции физически обоснованных спектров, мгновенных нейтронов деления ядер в форме Ватта, моноэнергетических нейтронов в форме Гаусса, Максвелловских тепловых нейтронов и в других вариантах.

 Кроме того, в монографии рассматриваются ключевые закономерности формирования МОП в замедляющих средах ядерных реакторов и нейтронных генераторов различных типов. В ней также приводится краткое описание МОП структур, применяющихся в решении важных научно- технических задач. В пособии, ориентированном на студентов и представителей научного сообщества, специализирующихся на спектрометрии и дозиметрии нейтронного излучения, представлена оригинальная методика оценки корректности системы, которая также будет интересна экспертам, изучающим радиационное воздействие нейтронного излучения на различные объекты.

Пресс-центр компании СЕРКОНС.
pr@serconsrus.ru

11.08.2015
Позвонить Заявка Написать
в WHATSAPP
Ваше имя:
Компания*:
Ваша должность:
Ваш комментарий: